Etiqueta: diagnóstico de fallos

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Diferencia entre Prueba Funcional (FT) y Prueba In-Circuit (ICT)

En los procesos de fabricación de placas electrónicas (PCBA), es fundamental garantizar que los productos estén eléctricamente correctos y funcionalmente operativos. Para esto, se utilizan dos tipos principales de prueba: la Prueba In-Circuit (ICT) y la Prueba Funcional (FT). Cada uno tiene un propósito técnico distinto y complementario, actuando en

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¿Qué es DFT (Diseño para Testabilidad)?

DFT – Design for Testability es un enfoque de ingeniería que consiste en diseñar un producto desde el principio para facilitar su prueba durante las etapas de validación, producción y mantenimiento. El objetivo del DFT es reducir el tiempo de prueba, aumentar la cobertura, facilitar el diagnóstico de fallos y